Obishi Keiki Seisakusho IC 소켓 검사 장비
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자동 계측 장치
IC 소켓 검사 장비
[ 형식 : QA-100형 ]
측정 시스템 개요
화상 처리 기술을 이용한 외관 검사의 자동 검사 장치입니다.
고속 처리가 가능하며 라인 내에서 공정 검사로 이용할 수 있습니다.
육안 검사의 성인화가 측정됩니다.
개략 사양
1) AC100V 10A 이하
2) 검사 시간 2.5초/1케… 판정 출력까지
3) 분해능 512×480 화소
4) IC 카드에 의해 다품종 대응이 가능합니다.
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