MCRL[MURAKAMI COLOR RESEARCH LABORATORY] 헤이즈 미터 HM-65N
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더블 빔 방식의 헤이즈 미터입니다. 적분구는 φ65mm를 사용하고 있으며, 측정 개구는 φ9, 측정 면적은 φ6mm입니다. HM-150N과 마찬가지로 시료실 도어에 센서가 있으므로 도어를 닫으면 자동으로 측정이 시작됩니다. 헤이즈 미터
색채 정보 측정 장비
헤이즈, 투과율 측정
헤이즈 미터
HM-65N
φ65mm의 적분구를 채용해, 측정 면적 φ6mm를 규격대로 측정!
본 기기(HM-65N)는 고레벨의 더블 빔 방식의 채용에 의해 재현성이 좋은 고정밀도의 측정을 간단하게 실시할 수 있는 헤이즈 미터입니다. 종합 분광 특성은 명소시 표준 시감 효율 V(λ)와 CIE 표준 일루미넌트 D65의 조합뿐만 아니라 표준 일루미넌트 A의 조합 특성으로도 전환됩니다. 신규격 ISO 13468, ISO 14782, JIS K 7361, JIS K 7136을 만족하고, 종래의 JIS K 7105에 의한 측정도 가능합니다. (※1) 또, 연산 및 제어에는, 퍼스널 컴퓨터를 사용해 각종 계산, 평균 계산 및 프린터 출력이 가능한 전자동형으로 항상 안정된, 측정 결과를 얻을 수 있습니다. 또한 소형 프린터(옵션)를 사용함으로써 현장에서 쉽게 데이터를 인쇄할 수 있습니다. 측정 항목으로는 HM-150N과 마찬가지로 전체 광선 투과율, 확산 광선 투과율, 평행 광선 투과율, 헤이즈를 얻을 수 있습니다. 또한 측정 면적을 작게 하기 위해 규격에 준하여 φ65mm의 적분구를 사용하여 측정 면적이 φ6mm로 입구 개구가 φ9mm를 가능하게 했습니다. 샘플 사이즈는 시트 형태로 최소 φ10mm의 샘플이 대응 가능합니다.
※1 JIS K 7105 및 JIS K 7361, JIS K 7136의 도해 파일
용도
- 플라스틱의 전광선 투과율 ·헤즈의 측정
- 유리의 전광선 투과율 ·헤즈의 측정
- 필름의 전광선 투과율 ·헤즈의 측정
- 액체의 전광선 투과율 ·헤즈의 측정
구조 개념도
시료실
샘플 없음
샘플 세트시
소프트웨어
소프트웨어 메인 화면
상단 : 메뉴 및 측정 시작, 중단 버튼 등
하단 : 샘플 당 데이터 목록 (10 회까지의 평균값 측정 표시)
* 이미지를 클릭하면 확대 표시됩니다.
USB 통신 드라이버 다운로드
- 시리얼 No.2193 이하에서 Win7 32bit를 사용하시는 분 → HM-150N(Win7_32bit)
- 시리얼 No.2193 이하로 Win10 이후를 사용하시는 분 → HM-150N(Win10~)
- 시리얼 No.2194 이상에서 Win7 32bit를 사용하시는 분 → FTDI(Win7_32bit)
- 시리얼 No.2194 이상으로 Win10 이후를 사용하시는 분 → FTDI(Win10~)
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