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막후계 L-500용 신개발 프로브 전자식 프로브(자성 금속소지용) 어플리케이션 메모리를 50개까지 보존 
막후계
막후계프로브 EP-100
제품 개요
- 막후계 L-500 용 신개발 프로브
- 전자식 프로브(자성 금속 소지용)
- 애플리케이션 메모리를 50개까지 저장
주요 사양
측정 방식 전자 유도식 측정대상 자성 금속상의 비자성 코팅 측정 범위 0 ~ 2,500μm 또는 99.0mils 측정 정확도 15μm 미만 ±0.3μm
15μm 이상 1,000μm 미만 ±2%
1,000μm 이상 ±3%대응 기종 막후계 L-500
카탈로그 · 취급 설명서
막후계프로브 EP-110
제품 개요
- 막후계 L-500 용 신개발 프로브
- 전자식 프로브(자성 금속 소지용)
- 애플리케이션 메모리를 50개까지 저장
- L자형
주요 사양
측정 방식 전자 유도식 측정대상 자성 금속상의 비자성 코팅 측정 범위 0 ~ 2,500μm 또는 99.0mils 측정 정확도 15μm 미만 ±0.3μm
15μm 이상 1,000μm 미만 ±2%
1,000μm 이상 ±3%대응 기종 막후계 L-500
카탈로그 · 취급 설명서
막후계프로브 EP-120
제품 개요
- 막후계 L-500 용 신개발 프로브
- 전자식 프로브(자성 금속 소지용)
- 애플리케이션 메모리를 50개까지 저장
- 파이프 내면 측정용
주요 사양
측정 방식 전자 유도식 측정대상 자성 금속상의 비자성 코팅 측정 범위 0 ~ 2,500μm 또는 99.0mils 측정 정확도 15μm 미만 ±0.3μm
15μm 이상 1,000μm 미만 ±2%
1,000μm 이상 ±3%대응 기종 막후계 L-500
카탈로그 · 취급 설명서
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