액정 셀의 과도 전류 측정은, IPS 모드의 실용화나 STN 패널의 표시 고속화에 수반하는 액정재의 저점성율화의 요구의 증가, 패널의 저항 측정, 불순물 이온의 측정 요구의 증가 등에 의해, 클로즈 업되어 왔습니다. 종래의 회전 점성률(γ1)의 측정은, 자장 장치 등의 설비가 필요하고, 또 벌크 상태에서 밖에 측정할 수 없었습니다. 그러나 본 장치에서는 자장 장치를 필요로 하지 않고, 액정 셀 에서의 회전 점성률(γ1)의 산출에 필요한 데이터(다이렉터·스위칭 피크나 불순물 이온 피크의 전류값·시간)를 측정할 수 있습니다.

※본제품에 대해서는, 2020년 9월을 가지고 판매를 종료했습니다.